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FM NanoviewRa-AFM Raman Fuerza Atómica microscopio

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Cantidad

Características principales

Tipo

Microscopio de sonda de escaneo

Número de modelo

FM-NanoviewRa-AFM

Nombre de la marca

FEISHIMAN

Lugar de origen

Shaanxi, China

Tamaño de muestra:

D ≤ 90mm, H ≤ 20mm

Aplicación

Una amplia gama de aplicaciones

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Características clave

Tipo
Microscopio de sonda de escaneo
Número de modelo
FM-NanoviewRa-AFM
Nombre de la marca
FEISHIMAN
Lugar de origen
Shaanxi, China
Tamaño de muestra:
D ≤ 90mm, H ≤ 20mm
Aplicación
Una amplia gama de aplicaciones
Rango de movimiento de muestra
0 ~ 20mm
Método de retroalimentación
Retroalimentación digital DSP
Interfaz de comunicación
USB2.0/3,0
Número de producto
GDXyzl003

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