Espectrómetro metalográfico de microscopio Digital de alto rendimiento para análisis de microestructura de sistema informático metálico
Sin reseñas
Atributos
Ultravioleta-Espectrómetro visibleTipo
2nmDe la banda espectral
0.1nmResolución de longitud de onda
Henan, ChinaLugar del origen
0.2nmRepetibilidad de la longitud de onda
yubooMarca
Soporte personalizado:OEM, ODM
Garantía:1 año
Peso:N.W. : 9KG ; G.W. : 10KG
Número de Modelo:FX-41MW
Características clave
Tipo
Ultravioleta-Espectrómetro visible
De la banda espectral
2nm
Resolución de longitud de onda
0.1nm
Lugar del origen
Henan, China
Repetibilidad de la longitud de onda
0.2nm
Marca
yuboo
Soporte personalizado
OEM, ODM
Garantía
1 año
Peso
N.W. : 9KG ; G.W. : 10KG
Número de Modelo
FX-41MW
Empaque y entrega
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Descripción de producto del proveedor
1 - 4 unidades
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