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Circuito Integrado Lógico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8652DL Componentes Electrónicos al por Mayor - Product Image 1
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Circuito Integrado Lógico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8652DL Componentes Electrónicos al por Mayor

EUR 2.83-5.64
MOQ: 33 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Componentes Electrónicos Originales 64 LQFP SN74ABT18502PM Circuito Integrado Lógico SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP Distribuidor Autorizado - Product Image 1
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Componentes Electrónicos Originales 64 LQFP SN74ABT18502PM Circuito Integrado Lógico SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP Distribuidor Autorizado

EUR 11.37-11.54
MOQ: 16 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 1
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 2
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 3
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 4
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 5
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 6

Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW

EUR 2.21-4.41
MOQ: 42 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 1
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 2
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 3
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 4
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 5
Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica - Product Image 6

Dispositivo de prueba de escaneo de CI de 24 DIP (0.300", 7.62mm) BUFF 24 DIP SN74BCT8244ANTG4, Chip de componente electrónico, IC BOM, En stock, Lógica

EUR 0.3418-0.6749
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 1
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 2
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 3
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 4
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 5
Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4 - Product Image 6

Dispositivo de prueba de escaneo IC con FF 24 DIP, componentes electrónicos originales del canal del fabricante Logic Manufacturer, SN74BCT8374ANTG4

EUR 2.34-4.65
MOQ: 60 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 1
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 2
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 3
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 4
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 5
Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM - Product Image 6

Componente Electrónico Logic BOM IC en Stock 64 LQFP IC SCAN TEST DEV/TXRX 64 LQFP SN74ABT18646PM

EUR 8.94-9.01
MOQ: 21 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 1
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 2
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 3
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 4
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 5
Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción - Product Image 6

Dispositivo de prueba de escaneo IC Logic In Stock SN74ABT8652DLR 28 SSOP 28 BSSOP (0.295", 7.50mm de ancho) Componente electrónico para producción

EUR 2.05-4.08
MOQ: 1,000 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 1
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 2
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 3
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 4
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 5
SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica - Product Image 6

SN74BCT8240ANT Original, Servicio Integral, Componentes Electrónicos, Circuito Integrado, Dispositivo de Prueba, Buff 24 DIP, Lógica

EUR 4.12-4.57
MOQ: 41 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK

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