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IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 1
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IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR

EUR 4.30-8.65
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado - Product Image 1
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Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado

EUR 2.84-5.68
MOQ: 33 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
SN74LVTH182652APM Logic 64 LQFP Componentes en Stock Dispositivo de Prueba de Escaneo Electrónico IC ABT 64 LQFP - Product Image 1
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SN74LVTH182652APM Logic 64 LQFP Componentes en Stock Dispositivo de Prueba de Escaneo Electrónico IC ABT 64 LQFP - Product Image 6

SN74LVTH182652APM Logic 64 LQFP Componentes en Stock Dispositivo de Prueba de Escaneo Electrónico IC ABT 64 LQFP

EUR 7.52-7.53
MOQ: 25 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
28 CLCC SNJ54BCT8245AFK Circuitos Integrados Chip IC Dispositivos de Prueba Lógica SCAN con Bus Octal BOM IC En Stock - Product Image 1
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28 CLCC SNJ54BCT8245AFK Circuitos Integrados Chip IC Dispositivos de Prueba Lógica SCAN con Bus Octal BOM IC En Stock

EUR 0.3681-0.7362
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH182504APM Componentes Electrónicos Lógicos Originales, Servicio Integral, Pedidos Completos en un Solo Lugar - Product Image 1
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64 LQFP IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP SN74ABTH182504APM Componentes Electrónicos Lógicos Originales, Servicio Integral, Pedidos Completos en un Solo Lugar

EUR 8.49-8.53
MOQ: 22 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales - Product Image 1
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24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales - Product Image 3
24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales - Product Image 4
24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales - Product Image 5
24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales - Product Image 6

24 SOIC (0.295'', 7.50mm de ancho) SN74BCT8373ADWRG4 Circuito Integrado Lógico, Dispositivo de Prueba de Escaneo, 24 SOIC, Circuitos Integrados Originales

EUR 1.79-3.57
MOQ: 2,000 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 1
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 2
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 3
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 4
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 5
DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT - Product Image 6

DISPOSITIVOS DE PRUEBA DE ESCANEO CON OCTAL BUF 24 CDIP (0.300", 7.62mm) Componentes Electrónicos en Línea Canal del Fabricante SNJ54BCT8244AJT

EUR 0.3681-0.7362
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 1
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 2
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 3
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 4
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 5
Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR - Product Image 6

Dispositivo de Prueba IC SCAN 28SOIC para Circuitos Integrados, Chips Lógicos, BOM IC en Stock 28SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) SN74ABT8952DWR

EUR 3.67-4.08
MOQ: 1,000 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK

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