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Proveedores de Componentes Electrónicos, Servicio Integral Original, SN54ABT8646, Dispositivos de Prueba de Escaneo WI 5962-9458601QXA Logic - Product Image 1
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Proveedores de Componentes Electrónicos, Servicio Integral Original, SN54ABT8646, Dispositivos de Prueba de Escaneo WI 5962-9458601QXA Logic

EUR 22.33-44.64
MOQ: 5 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Servicio Integral Original 24 CDIP (0.300", 7.62mm) SN54BCT8244A Dispositivos de Prueba de Escaneo Venta al por Mayor de Componentes Electrónicos Lógicos - Product Image 1
Servicio Integral Original 24 CDIP (0.300", 7.62mm) SN54BCT8244A Dispositivos de Prueba de Escaneo Venta al por Mayor de Componentes Electrónicos Lógicos - Product Image 2
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Servicio Integral Original 24 CDIP (0.300", 7.62mm) SN54BCT8244A Dispositivos de Prueba de Escaneo Venta al por Mayor de Componentes Electrónicos Lógicos - Product Image 6

Servicio Integral Original 24 CDIP (0.300", 7.62mm) SN54BCT8244A Dispositivos de Prueba de Escaneo Venta al por Mayor de Componentes Electrónicos Lógicos

EUR 13.95-27.89
MOQ: 7 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral - Product Image 1
SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral - Product Image 2
SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral - Product Image 3
SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral - Product Image 4
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SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral - Product Image 6

SN74BCT8373ADWR Componentes Electrónicos IC Dispositivo de Prueba de Escaneo LATCH 24SOIC Lógico Original Servicio Integral

EUR 2.27-3.54
MOQ: 2,000 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 1
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 2
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 3
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 4
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 5
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 6

Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos

EUR 1.84-3.68
MOQ: 50 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 1
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 2
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 3
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 4
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 5
Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico - Product Image 6

Distribuidor Autorizado: Dispositivo de Prueba IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24 DIP (0.300", 7.62mm) Lógico SN74BCT8245ANT, Componente de Chip Electrónico

EUR 4.61-6.17
MOQ: 30 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 1
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 2
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 3
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 4
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 5
Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR - Product Image 6

Distribuidor Autorizado de Componentes Electrónicos Logic 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC SCAN TEST DEV W/OBT 24 SOIC SN74ABT8245DWR

EUR 2.35-4.09
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 1
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 2
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 3
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 4
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 5
IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho) - Product Image 6

IC SCAN TEST DEV/TXRX 56 TSSOP Logic Manufacturer Channel SN74ABT18245ADGGR 56 TFSOP (0.240", 6.10mm de ancho)

EUR 3.83-6.42
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 1
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 2
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 3
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 4
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 5
Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM - Product Image 6

Componente Electrónico Lógico Original de Producción IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP 64 LQFP SN74ABTH182502APM

EUR 8.42-8.47
MOQ: 22 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK

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