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SN74LVTH182652APM Logic 64 LQFP Componentes en Stock Dispositivo de Prueba de Escaneo Electrónico IC ABT 64 LQFP

EUR 7.75-7.77
MOQ: 25 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado - Product Image 1
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Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado - Product Image 5
Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado - Product Image 6

Componentes Electrónicos SN74ABT8543DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) Distribuidor Autorizado

EUR 2.93-5.85
MOQ: 33 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 1
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 2
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 3
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 4
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 5
En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor - Product Image 6

En Stock: Componente Electrónico Logic 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST SNJ54LVTH18502AHV, Distribuidor

EUR 51.14-102.28
MOQ: 2 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
SN74BCT8373DWR Controlador de Bus de Escaneo de Límites, Componentes Electrónicos Originales - Product Image 1
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SN74BCT8373DWR Controlador de Bus de Escaneo de Límites, Componentes Electrónicos Originales

EUR 0.9856-1.97
MOQ: 98 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 1
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 2
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 3
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 4
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 5
En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead) - Product Image 6

En stock: Circuito integrado de registro de escaneo de 8 bits ECL 28PLCC, accesorios de componentes electrónicos MC100E241FNG, lógica 28 LCC (J Lead)

EUR 3.87-4.08
MOQ: 47 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 1
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 2
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 3
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Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 5
Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos - Product Image 6

Circuito Integrado BOM IC en Stock SN74BCT8244ANT, Dispositivo de Prueba Lógica IC SCAN TEST BUFF 24 DIP (0.300", 7.62mm), Fabricante de Componentes Electrónicos

EUR 1.91-3.82
MOQ: 50 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
SN74LVT8996DWR 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC Transceptor de Puerto de Escaneo de 10 Bits 24 SOIC Componentes Electrónicos Lógicos Originales - Product Image 1
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SN74LVT8996DWR 24 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho) IC Transceptor de Puerto de Escaneo de 10 Bits 24 SOIC Componentes Electrónicos Lógicos Originales

EUR 2.37-4.74
MOQ: 2,000 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 1
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 2
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 3
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 4
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 5
IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR - Product Image 6

IC 10 BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP Logic 24 TSSOP (0.173", 4.40mm de ancho) SN74LVT8996PWR

EUR 4.44-8.93
MOQ: 1 unidad
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)

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