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SN74BCT8374ANTG4 Dispositivo de Prueba de Escaneo IC de 8 Bits 24-PDIP, Chip IC Original Nuevo en Stock

EUR 0.8775-1.76
MOQ: 10 unidades
ApexCore HK Technology Limited
1 yrsHK flagHK4.6/5.0(8)
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SN74ABT8646DL Dispositivo de Prueba de Escaneo IC de 8 Bits 28BSSOP, Chip IC Original Nuevo en Stock

EUR 0.8775-1.76
MOQ: 10 unidades
ApexCore HK Technology Limited
1 yrsHK flagHK4.6/5.0(8)
Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE - Product Image 1
Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE - Product Image 2
Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE - Product Image 3
Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE - Product Image 4
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Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE - Product Image 6

Seguimiento 3D de alta precisión UWB Gateway UWB Tecnología de conectividad de baja potencia Anclaje Antena UWB Escaneo rápido Etiqueta BLE

EUR 8.78-21.94
MOQ: 2 unidades
KKM TECHNOLOGY COMPANY LIMITED
2 yrsHK flagHK4.9/5.0(7)
SCANPSC100FSC IC SCAN CTRLR EMB BOUNDRY 28SOIC Chip IC Original Nuevo en Stock - Product Image 1
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SCANPSC100FSC IC SCAN CTRLR EMB BOUNDRY 28SOIC Chip IC Original Nuevo en Stock

EUR 0.8775-1.76
MOQ: 10 unidades
ApexCore HK Technology Limited
1 yrsHK flagHK4.6/5.0(8)
Dispositivo de Prueba de Escaneo IC SN74BCT8374ANT de 8 Bits 24-PDIP, Chip IC Original Nuevo en Stock - Product Image 1
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Dispositivo de Prueba de Escaneo IC SN74BCT8374ANT de 8 Bits 24-PDIP, Chip IC Original Nuevo en Stock - Product Image 5
Dispositivo de Prueba de Escaneo IC SN74BCT8374ANT de 8 Bits 24-PDIP, Chip IC Original Nuevo en Stock - Product Image 6

Dispositivo de Prueba de Escaneo IC SN74BCT8374ANT de 8 Bits 24-PDIP, Chip IC Original Nuevo en Stock

EUR 0.8775-1.76
MOQ: 10 unidades
ApexCore HK Technology Limited
1 yrsHK flagHK4.6/5.0(8)
Lente de Cámara de Escaneo Lineal CA-LHW8 CA-LHW12 CA-LHW16, Repuestos para Equipos de Automatización Industrial - Product Image 1
Lente de Cámara de Escaneo Lineal CA-LHW8 CA-LHW12 CA-LHW16, Repuestos para Equipos de Automatización Industrial - Product Image 2
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Lente de Cámara de Escaneo Lineal CA-LHW8 CA-LHW12 CA-LHW16, Repuestos para Equipos de Automatización Industrial

EUR 346.19-358.56
MOQ: 1 unidad
MINGXING TECHNOLOGY CO., LIMITED
2 yrsHK flagHK5.0/5.0(7)
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 1
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 2
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Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 4
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 5
Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW - Product Image 6

Circuito Integrado Logic 28 SOIC (0.295", 7.50mm de Ancho), Componente Electrónico IC SCAN TEST DEV/XCVR 28 SOIC Original SN74ABT8952DW

EUR 2.22-4.42
MOQ: 42 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)
SNJ54LVTH18502AHV Circuito Integrado Lógico de Canal del Fabricante, Componentes Electrónicos 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST - Product Image 1
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SNJ54LVTH18502AHV Circuito Integrado Lógico de Canal del Fabricante, Componentes Electrónicos 54LVTH18502A 3.3 V ABT SCAN TEST

EUR 49.64-99.27
MOQ: 2 unidades
UNITE CHANCE CO., LIMITED
1 yrsHK flagHK5.0/5.0(1)

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